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科研進(jìn)展

理論物理團(tuán)隊(duì)在輕子味道破壞研究方面取得新進(jìn)展

添加時(shí)間:2024-05-10 11:31:46   瀏覽次數(shù): 次

近日,我院理論物理團(tuán)隊(duì)在輕子味道破壞的理論研究上取得了新進(jìn)展,相關(guān)工作“Charged lepton flavor violation in the B?L symmetric SSM”發(fā)表在《Physical Review D》(109(2024) 055019),董幸幸博士為第一作者,馮太傅教授和趙樹民教授為共同通訊作者。

帶電輕子味道破壞(CLFV)是一種超越標(biāo)準(zhǔn)模型(SM)的全新物理信號。在具有局部B-L規(guī)範(fàn)對稱性的最小超對稱擴(kuò)展(B-LSSM)中,我們利用質(zhì)量插入近似方法(MIA)研究了CLFV過程lj->1iγ,MIA可以為形狀因子和相關(guān)有效頂點(diǎn)提供一套簡單的解析公式。在保證SARAH與MIA方案兼容的前提下,假設(shè)所有的超粒子質(zhì)量近似簡并,我們發(fā)現(xiàn)B-LSSM的敏感參數(shù)對μ子磁偶極矩(MDM)和CLFV過程的貢獻(xiàn)可直接在解析層面讀取,從而可以直觀地分析CLFV過程的衰變寬度隨敏感參數(shù)的跑動。考慮物理的希格斯玻色子質(zhì)量和μ子MDM滿足4σ、3σ、2σ的實(shí)驗(yàn)約束,我們討論了B-LSSM參數(shù)空間的約束條件,lj->1iγ過程的分支比明顯受超輕子味道混合參數(shù)δij(i,j=1,2,3,i≠j)的影響,并隨著δij的增大而顯著提高。數(shù)值結(jié)果表明,新物理參數(shù)對CLFV過程的貢獻(xiàn)是可觀的,這表明lj->1iγ過程可能會在未來的高能對撞機(jī)上被探測到。

圖1 lj->1iγ過程的分支比隨參數(shù)δij的跑動,點(diǎn)虛線代表lj->1iγ過程目前的實(shí)驗(yàn)上限

以上工作得到國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目、河北省教育廳青年基金項(xiàng)目、河北省科技廳青年基金項(xiàng)目和BETVLCTOR偉德官方網(wǎng)站高層次引進(jìn)人才項(xiàng)目的資助。

文章鍊接:10.1103/PhysRevD.109.055019

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